2024-03-29T11:42:53Zhttps://eprints.lib.hokudai.ac.jp/dspace-oai/requestoai:eprints.lib.hokudai.ac.jp:2115/755702022-11-17T02:08:08Zhdl_2115_20045hdl_2115_139電子線トモグラフィーによる格子欠陥の3次元可視化Three-dimensional Visualization of Lattice Defects by Electron Tomography波多, 聰Hata, Satoshi光原, 昌寿Mitsuhara, Masatoshi田中, 將己Tanaka, Masaki宮崎, 裕也Miyazaki, Hiroya1000020335996池田, 賢一Ikeda, Ken-ichi金子, 賢治Kaneko, Kenji中島, 英治Nakashima, Hideharu東田, 賢二Higashida, Kenji松村, 晶Matsumura, Shoopen accesselectron tomographylattice defectdislocationtransmission electron microscopy (TEM)scanning transmission electron microscopy (STEM)three dimensionsdual-axis tomography430X線CT(computed tomography : コンピューター断層撮影法)の原理を透過電子顕微鏡(TEM: transmission electron microscope)に応用した電子線トモグラフィーは、物質のナノ構造を3次元で観察・解析する方法として、また、人間の直感に訴える新しいナノ構造可視化技術として、様々な材料への応用が進んできている。電子線トモグラフィーについては本誌で既に解説がなされており、本稿ではその後の進展として、結晶内部の格子欠陥を3次元可視化する取り組みを紹介する。日本金属学会2010-06jpnjournal articleVoRhttp://hdl.handle.net/2115/75570https://doi.org/10.2320/materia.49.2741340-2625AN10433227まてりあMateria Japan496274279https://eprints.lib.hokudai.ac.jp/dspace/bitstream/2115/75570/1/materia%20%2049%286%29%20274.pdfapplication/pdf2.54 MB2010-06