2024-03-29T09:49:07Zhttps://eprints.lib.hokudai.ac.jp/dspace-oai/requestoai:eprints.lib.hokudai.ac.jp:2115/755702022-11-17T02:08:08Zhdl_2115_20045hdl_2115_139電子線トモグラフィーによる格子欠陥の3次元可視化Three-dimensional Visualization of Lattice Defects by Electron Tomography波多, 聰光原, 昌寿田中, 將己宮崎, 裕也池田, 賢一金子, 賢治中島, 英治東田, 賢二松村, 晶electron tomographylattice defectdislocationtransmission electron microscopy (TEM)scanning transmission electron microscopy (STEM)three dimensionsdual-axis tomography430X線CT(computed tomography : コンピューター断層撮影法)の原理を透過電子顕微鏡(TEM: transmission electron microscope)に応用した電子線トモグラフィーは、物質のナノ構造を3次元で観察・解析する方法として、また、人間の直感に訴える新しいナノ構造可視化技術として、様々な材料への応用が進んできている。電子線トモグラフィーについては本誌で既に解説がなされており、本稿ではその後の進展として、結晶内部の格子欠陥を3次元可視化する取り組みを紹介する。日本金属学会Journal Articleapplication/pdfhttp://hdl.handle.net/2115/75570https://eprints.lib.hokudai.ac.jp/dspace/bitstream/2115/75570/1/materia%20%2049%286%29%20274.pdf1340-2625AN10433227まてりあ4962742792010-06jpninfo:doi/10.2320/materia.49.274publisher