北海道大学工学部研究報告 = Bulletin of the Faculty of Engineering, Hokkaido University;No.143

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高分解能電子顕微鏡による化合物半導体/酸化絶縁膜界面構造の観察

高橋, 平七郎;柴山, 環樹;長谷川, 英樹;大野, 英男

Permalink : http://hdl.handle.net/2115/42147

Abstract


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