Gate Control, Surface Leakage Currents and Peripheral Charging in AlGaN/GaN Heterostructure Field Effect Transistors Having Nanometer-Scale Schottky Gates

Kasai, S.; Kotani, J.; Hashizume, T. et al.

Journal of Electronic Materials, 2006, 35(4), 568-575

Permalink : https://hdl.handle.net/2115/10522

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