An approach to nano-chemical analysis through NC-AFM technique

Suzuki, S.; Koike, Y.; Fujikawa, K. et al.

Catalysis Today, 2006, 117(1-3), 80-83

Permalink : https://hdl.handle.net/2115/15417

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アクセス権	open access
URI	https://hdl.handle.net/2115/15417
タイトル	An approach to nano-chemical analysis through NC-AFM technique
著者	Suzuki, S. ; Koike, Y. ; Fujikawa, K. ; Matsudaira, N. ; Nakamura, M. ; Chun, W.-J. ; Nomura, M. ; Asakura, K.
著者名 Suzuki, S.
著者名 Koike, Y.
著者名 Fujikawa, K.
著者名 Matsudaira, N.
著者名 Nakamura, M.
著者名 Chun, W.-J.
著者名 Nomura, M.
e-Rad_Researcher 60175164 著者名 Asakura, K.
言語	英語
キーワード	XANAM
	NC-AFM
	Oxide surface
発行日	2006-09-30
出版者	Elsevier B.V.
収録物名	Catalysis Today
巻(号)	117(1-3)
ページ	80-83
抄録	We have measured the NC-AFM frequency shift dependence on the X-ray energy around the Au L3 absorption edge energy. We found a peak in the frequency shift just above the Au region at the Au L3 absorption edge energy while we could not detect any peak in the frequency shift when the NC-AFM tip was placed above the Si regions. This novel phenomenon indicated that the combination of energy-variable X-rays and NC-AFM provides us a new way to nano level chemical mapping at surface. We briefly discussed some possible mechanisms.
資源タイプ	学術雑誌論文
出版タイプ	Accepted Manuscript
PISSN	0920-5861
関連情報	URI http://www.sciencedirect.com/science/journal/09205861
関連情報 (isVersionOf)	出版社版DOI https://doi.org/10.1016/j.cattod.2006.05.008