走査型電子顕微鏡による氷の表面の観察 Ⅱ : 冷却に伴う試料の汚染
鈴木, 重尚
低温科學. 物理篇, 1976, 33, 1-9
Permalink : https://hdl.handle.net/2115/18269
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33_p1-9
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