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ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
im41-2	pdf	750 KB	3,205

論文情報

ファイル出力 EndNote Basic出力 Mendeley出力

アクセス権	open access
URI	https://hdl.handle.net/2115/28040
タイトル	同位体顕微鏡 : 高感度二次元イオン検出による結像型SIMS
	Isotope Microscope : Imaging SIMS with High sensitive 2D-ion-detection
著者	e-Rad_Researcher 80191485 著者名 圦本, 尚義 Yurimoto, Hisayoshi
言語	日本語
キーワード	イメージング
	同位体
	二次イオン質量分析法
	荷電粒子
	固体撮像素子
発行日	2006
出版者	社団法人　日本顕微鏡学会
	The Japanese Society of Microscopy
収録物名	顕微鏡
巻(号)	41(2)
ページ	134-137
資源タイプ	学術雑誌論文
出版タイプ	Accepted Manuscript
PISSN	1349-0958

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