粒界面近傍における少数キャリアの拡散長と寿命の研究

小林, 広武; 小川, 吉彦; 黒部, 貞一

北海道大學工學部研究報告, 1980, 99, 23-33

Permalink : https://hdl.handle.net/2115/41624

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99_23-34	pdf	468 KB	5,372

アクセス権	open access
URI	https://hdl.handle.net/2115/41624
タイトル	粒界面近傍における少数キャリアの拡散長と寿命の研究
タイトル	Investigasion of Minority Carrier Diffusion Length and Life Time in the Neighborhood of Grain Boundary
著者	小林, 広武 ; 小川, 吉彦 ; 黒部, 貞一
著者名小林, 広武 Kobayashi, Hiromu
著者名小川, 吉彦 Ogawa, Yoshihiko
著者名黒部, 貞一 Kurobe, Teiichi
言語	日本語
発行日	1980-08-11
出版者	北海道大学
出版者	Hokkaido University
収録物名	北海道大學工學部研究報告
収録物名	Bulletin of the Faculty of Engineering, Hokkaido University
巻(号)	99
ページ	23-33
資源タイプ	紀要論文
出版タイプ	Version of Record
PISSN	0385-602X
NCID	AN00230223