静電容量法による液膜波形測定装置の開発

村井, 郁夫; 石黒, 亮二

北海道大學工學部研究報告, 1987, 134, 33-38

Permalink : https://hdl.handle.net/2115/42023

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134_33-38	pdf	425 KB	1,894

アクセス権	open access
URI	https://hdl.handle.net/2115/42023
タイトル	静電容量法による液膜波形測定装置の開発
タイトル	Development of a Capacitance Method Measuring Wave Configuration on Liquid Film Surfaces
著者	著者名村井, 郁夫 Murai, Ikuo
著者	著者名石黒, 亮二 Ishiguro, Ryoji
言語	日本語
発行日	1987-01-31
出版者	北海道大学
出版者	Hokkaido University
収録物名	北海道大學工學部研究報告
収録物名	Bulletin of the Faculty of Engineering, Hokkaido University
巻(号)	134
ページ	33-38
資源タイプ	紀要論文
出版タイプ	Version of Record
PISSN	0385-602X
NCID	AN00230223