フォトルミネセンス法によるInGaAS細線の評価
岩穴, 忠義; 藤倉, 序章; 長谷川, 英機
北海道大學工學部研究報告, 1994, 170, 17-26
Permalink : https://hdl.handle.net/2115/42431
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170_17-26
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