Snapshot imaging Mueller matrix polarimeter using polarization gratings

Kudenov, Michael W.; Escuti, Michael J.; Hagen, Nathan et al.

Optics Letters, 2012, 37(8), 1367-1369

Permalink : https://hdl.handle.net/2115/49323

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論文情報

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アクセス権
open access
URI
https://hdl.handle.net/2115/49323
タイトル
Snapshot imaging Mueller matrix polarimeter using polarization gratings
著者
Kudenov, Michael W. ; Escuti, Michael J. ; Hagen, Nathan ; Dereniak, Eustace L. ; Oka, Kazuhiko
著者名
Kudenov, Michael W.
著者名
Escuti, Michael J.
著者名
Hagen, Nathan
著者名
Dereniak, Eustace L.
e-Rad_Researcher
00194324
著者名
Oka, Kazuhiko
言語
英語
発行日
2012-04-15
出版者
Optical Society of America
収録物名
Optics Letters
巻(号)
37(8)
ページ
1367-1369
抄録
A snapshot imaging Mueller matrix polarimeter (SIMMP) is theoretically described and empirically demonstrated through simulation. Spatial polarization fringes are localized onto a sample by incorporating polarization gratings (PGs) into a polarization generator module. These fringes modulate the Mueller matrix (MM) components of the sample, which are subsequently isolated with PGs in an analyzer module. The MM components are amplitude modulated onto spatial carrier frequencies which, due to the PGs, maintain high visibility in spectrally broadband illumination. An interference model of the SIMMP is provided, followed by methods of reconstruction and calibration. Lastly, a numerical simulation is used to demonstrate the system's performance in the presence of noise.
資源タイプ
学術雑誌論文
出版タイプ
Version of Record
権利情報
© 2012 Optical Society of America
PISSN
0146-9592
関連情報 (isIdenticalTo)
出版社版DOI
https://doi.org/10.1364/OL.37.001367