Ultrafast ellipsometric interferometry for direct detection of coherent phonon strain pulse profiles

Matsuda, Osamu; Tomoda, Motonobu; Tachizaki, Takehiro et al.

Journal of the Optical Society of America B - Optical Physics, 2013, 30(7), 1911-1921

Permalink : https://hdl.handle.net/2115/53078

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論文情報

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アクセス権
open access
URI
https://hdl.handle.net/2115/53078
タイトル
Ultrafast ellipsometric interferometry for direct detection of coherent phonon strain pulse profiles
著者
Matsuda, Osamu ; Tomoda, Motonobu ; Tachizaki, Takehiro ; Koiwa, Shun ; Ono, Atsushi ; Aoki, Kae ; Beardsley, Ryan P. ; Wright, Oliver B.
e-Rad_Researcher
30239024
著者名
Matsuda, Osamu
著者名
Tomoda, Motonobu
著者名
Tachizaki, Takehiro
著者名
Koiwa, Shun
著者名
Ono, Atsushi
著者名
Aoki, Kae
著者名
Beardsley, Ryan P.
著者名
Wright, Oliver B.
言語
英語
発行日
2013-07
出版者
Optical Society of America
収録物名
Journal of the Optical Society of America B - Optical Physics
巻(号)
30(7)
ページ
1911-1921
抄録
We describe an ultrafast optical technique to quantitatively detect picosecond ultrasonic displacements of solid surfaces, thus giving access to the longitudinal strain pulse shape. Transient optical reflectance changes recorded at oblique optical incidence with a common-path interferometric configuration based on ultrafast ellipsometry monitor gigahertz coherent phonon pulses. We demonstrate for a tungsten film the quantitative extraction of the strain pulse shape free of distortions arising from the photoelastic effect, and analyze the results with the two-temperature model to obtain the value g approximate to 3 x 10(17) Wm(-3) K-1 for the electron-phonon coupling constant. Analysis of the data also reveals a thermo-optic contribution. (C) 2013 Optical Society of America
資源タイプ
学術雑誌論文
出版タイプ
Version of Record
権利情報
© 2013 Optical Society of America, Inc.
PISSN
0740-3224
関連情報 (isIdenticalTo)
出版社版DOI
https://doi.org/10.1364/JOSAB.30.001911