Interface structure of half-metallic Heusler alloy Co2MnSi thin films facing an MgO tunnel barrier determined by x-ray magnetic circular dichroism

Saito, Toshiaki; Katayama, Toshikazu; Ishikawa, Takayuki et al.

Physical Review B, 2010, 81(14), 144417

Permalink : https://hdl.handle.net/2115/54791

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論文情報

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アクセス権
open access
URI
https://hdl.handle.net/2115/54791
タイトル
Interface structure of half-metallic Heusler alloy Co2MnSi thin films facing an MgO tunnel barrier determined by x-ray magnetic circular dichroism
著者
Saito, Toshiaki ; Katayama, Toshikazu ; Ishikawa, Takayuki ; Yamamoto, Masafumi ; Asakura, Daisuke ; Koide, Tsuneharu ; Miura, Yoshio ; Shirai, Masafumi
著者名
Saito, Toshiaki
著者名
Katayama, Toshikazu
著者名
Ishikawa, Takayuki
e-Rad_Researcher
10322835
著者名
Yamamoto, Masafumi
著者名
Asakura, Daisuke
著者名
Koide, Tsuneharu
著者名
Miura, Yoshio
著者名
Shirai, Masafumi
言語
英語
発行日
2010-04-15
出版者
American Physical Society
収録物名
Physical Review B
巻(号)
81(14)
ページ
144417
資源タイプ
学術雑誌論文
出版タイプ
Version of Record
権利情報
© 2010 American Physical Society
PISSN
1098-0121
EISSN
1550-235X
関連情報 (isIdenticalTo)
出版社版DOI
https://doi.org/10.1103/PhysRevB.81.144417