Photothermal probing of inhomogeneously modulated transparent thin films

Wright, O. B.; Li Voti, R.; Matsuda, O.; Larciprete, M. C.; Bertolotti, M.; Sibilia, C.

Photothermal probing of inhomogeneously modulated transparent thin films

Wright, O. B.; Li Voti, R.; Matsuda, O. et al.

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2002, 91(8), 5002-5009

Permalink : https://hdl.handle.net/2115/5796

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論文情報

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アクセス権	open access
URI	https://hdl.handle.net/2115/5796
タイトル	Photothermal probing of inhomogeneously modulated transparent thin films
著者	Wright, O. B. ; Li Voti, R. ; Matsuda, O. ; Larciprete, M. C. ; Bertolotti, M. ; Sibilia, C.
e-Rad_Researcher 90281790 著者名 Wright, O. B. ライト, オリバーバーナード
著者名 Li Voti, R.
e-Rad_Researcher 30239024 著者名 Matsuda, O.
著者名 Larciprete, M. C.
著者名 Bertolotti, M.
著者名 Sibilia, C.
言語	英語
発行日	2002-04-15
出版者	American Institute of Physics
収録物名	JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
巻(号)	91(8)
ページ	5002-5009
抄録	The problem of the photothermal modulation of optical beams passing through multilayer films is an extremely complex one owing to the inhomogeneously modulated refractive index combined with multiple optical reflections inside the sample. This problem has so far not been given an exact analytical treatment in the field of photothermal probing. We consider here such a treatment for normal-incidence optical probing in reflectance of photothermally modulated single-layer thin-film samples with arbitrary optical constants. The validity of the method is demonstrated by application to a thin transparent film of silica on a silicon substrate.
資源タイプ	学術雑誌論文
出版タイプ	Version of Record
権利情報	Copyright © 2002 American Institute of Physics
関連情報	URI http://www.aip.org/
関連情報 (isIdenticalTo)	出版社版DOI https://doi.org/10.1063/1.1462414