Remote excitation-tip-enhanced Raman scattering microscopy using silver nanowire

Fujita, Yasuhiko; Walke, Peter; De Feyter, Steven et al.

Japanese Journal of Applied Physics (JJAP), 2016, 55(8S1), 08NB03

Permalink : https://hdl.handle.net/2115/66893

このアイテムのアクセス数:7062026-08-11 04:59 集計

閲覧可能ファイル 

ファイル フォーマット サイズ 閲覧回数 説明
SP15026 pdf 425 KB 779

論文情報

ファイル出力 EndNote Basic出力 Mendeley出力

アクセス権
URI
タイトル
著者
言語
発行日
出版者
収録物名
巻(号)
ページ
抄録
資源タイプ
出版タイプ
権利情報
PISSN
関連情報 (isVersionOf)