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ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
Kenbikyo 40(1) 59	pdf	1.63 MB	268

論文情報

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アクセス権	open access
URI	https://hdl.handle.net/2115/77011
タイトル	超高圧電子顕微鏡による照射場格子揺らぎ解析
	HVEM study of radiation-induced structural fluctuation
著者	e-Rad_Researcher 60241353 著者名 渡辺, 精一 Watanabe, Seiichi
言語	日本語
キーワード	照射効果
	その場観察
	超高圧電子顕微鏡
	金属ガラス
	構造揺らぎ
	HVEM
発行日	2005-03-31
出版者	日本顕微鏡学会
収録物名	顕微鏡
巻(号)	40(1)
ページ	59-62
抄録	現在、ナノ材料研究は隆盛を極めているが、一般的にナノメートル程度の空間領域を扱う際、揺らぎ効果がキーファクターとなる場合があるので注意を要する。これは系サイズが小さくなると統計揺らぎ効果により、熱振動や場に特有な局所揺動効果が顕在化してくることに起因する。たとえマクロスコーピックでは平衡あるいは定常状態であっても、それはミクロスコーピックには状態間遷移に対して詳細釣合い条件が成立していると換言でき、原子レベルでは系状態が絶えず時間変動し、”揺らいで”いる。さらに、本研究で扱うような金属ガラスなどの固体材料中では、複雑系ゆえの多体効果に基づく非線形的平衡揺らぎが出現する。本稿では、高分解能型超高圧電子顕微鏡を利用したその場照射実験結果を中心に、機能性材料の代表として形状記憶・超弾性効果で有名な合金材料であるNiTi金属間化合物に関して、非晶質化過程の原子構造揺らぎについて紹介する。
資源タイプ	学術雑誌論文
出版タイプ	Version of Record
PISSN	1349-0958
EISSN	2434-2386
NCID	AA11917781
関連情報 (isIdenticalTo)	出版社版DOI https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.40.59

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