閲覧可能ファイル 

ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
Satoshi_Muto_r2_210621	pdf	32.2 MB	897

論文情報

ファイル出力 EndNote Basic出力 Mendeley出力

アクセス権	open access
DOI	https://doi.org/10.14943/doctoral.k14590
URI	https://hdl.handle.net/2115/81405
タイトル	動的電子顕微鏡観察法による抵抗変化メモリの動作特性とナノ構造変化に関する研究
	Study on operation property and nano-structural evolution of resistive random access memory by means of in situ electron microscopy
著者	著者名 武藤, 恵
言語	日本語
発行日	2021-03-25
出版者	Hokkaido University
ページ数	90p
学位授与機関	識別子 10101 機関名 北海道大学 Hokkaido University
学位授与年月日	2021-03-25
学位授与番号	甲第14590号
学位名	博士(工学)
学位の審査委員	(主査) 教授 末岡 和久, 教授 植村 哲也, 教授 村山 明宏, 准教授 有田 正志
学位審査の研究科等	情報科学研究科(情報エレクトロニクス専攻)
資源タイプ	博士論文
出版タイプ	Version of Record
関連情報 (isReferencedBy)	HDL https://hdl.handle.net/2115/81402

ホームへ戻る