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ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
Yuhiro_Segawa_abstract	pdf	153 KB	284	論文内容の要旨
Yuhiro_Segawa_review	pdf	124 KB	258	審査の要旨

論文情報

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アクセス権	open access
URI	https://hdl.handle.net/2115/83206
タイトル	収差補正透過電子顕微鏡によるFree-standingグラフェンの3次元原子分解能イメージング [論文内容及び審査の要旨]
	3D atomic resolved imaging of free-standing graphene by using aberration-corrected TEM [an abstract of dissertation and a summary of dissertation review]
著者	著者名 瀬川, 裕大
言語	日本語
発行日	2021-09-24
出版者	Hokkaido University
学位授与機関	識別子 10101 機関名 北海道大学 Hokkaido University
学位授与番号	甲第14672号
学位名	博士(工学)
学位の審査委員	(主査) 教授 郷原 一壽, 教授 柴山 環樹, 教授 折原 宏
学位審査の研究科等	工学院（応用物理学専攻）
資源タイプ	博士論文
出版タイプ	Version of Record
権利情報	Creative Commons Attribution 4.0 International
関連情報 (references)	HDL https://hdl.handle.net/2115/83207

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