Scanning ultrafast Sagnac interferometry for imaging two-dimensional surface wave propagation

Tachizaki, Takehiro; Muroya, Toshihiro; Matsuda, Osamu et al.

Review of Scientific Instruments, 2006, 77(4), 043713-1-043713-12

Permalink : https://hdl.handle.net/2115/9100

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アクセス権	open access
URI	https://hdl.handle.net/2115/9100
タイトル	Scanning ultrafast Sagnac interferometry for imaging two-dimensional surface wave propagation
著者	Tachizaki, Takehiro ; Muroya, Toshihiro ; Matsuda, Osamu ; Sugawara, Yoshihiro ; Hurley, David H. ; Wright, Oliver B.
著者名 Tachizaki, Takehiro
著者名 Muroya, Toshihiro
e-Rad_Researcher 30239024 著者名 Matsuda, Osamu
著者名 Sugawara, Yoshihiro
著者名 Hurley, David H.
著者名 Wright, Oliver B.
言語	英語
発行日	2006-04
出版者	American Institute of Physics
収録物名	Review of Scientific Instruments
巻(号)	77(4)
ページ	043713-1-043713-12
抄録	We describe an improved two-dimensional optical scanning technique combined with an ultrafast Sagnac interferometer for delayed-probe imaging of surface wave propagation. We demonstrate the operation of this system, which involves the use of a single focusing objective, by monitoring surface acoustic wave propagation on opaque substrates with picosecond temporal and micron lateral resolutions. An improvement in the lateral resolution by a factor of 3 is achieved in comparison with previous setups for similar samples.
資源タイプ	学術雑誌論文
出版タイプ	Version of Record
権利情報	Copyright © 2006 American Institute of Physics
PISSN	0034-6748
関連情報	URI http://rsi.aip.org/rsi/
関連情報 (isIdenticalTo)	出版社版DOI https://doi.org/10.1063/1.2194518