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ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
Ryota_Ochi_abstract	pdf	105 KB	148	論文内容の要旨
Ryota_Ochi_review	pdf	97.2 KB	197	審査の要旨

論文情報

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アクセス権	open access
URI	https://hdl.handle.net/2115/91938
タイトル	AlGaN/GaNヘテロ構造における表面・界面の評価および制御とトランジスタ応用 [論文内容及び審査の要旨]
	Characterization and control of surface and interface on AlGaN/GaN heterostructures for transistor applications [an abstract of dissertation and a summary of dissertation review]
著者	著者名 越智, 亮太
言語	日本語
発行日	2024-03-25
出版者	Hokkaido University
学位授与機関	識別子 10101 機関名 北海道大学 Hokkaido University
学位授与番号	甲第16003号
学位名	博士(工学)
学位の審査委員	(主査) 教授 本久 順一, 教授 太田 裕道, 准教授 赤澤 正道
学位審査の研究科等	情報科学院(情報科学専攻)
資源タイプ	博士論文
出版タイプ	Version of Record
権利情報	Creative Commons Attribution 4.0 International
関連情報 (references)	HDL https://hdl.handle.net/2115/91955

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