AlGaN/GaNヘテロ構造における表面・界面の評価および制御とトランジスタ応用

越智, 亮太

2024

Permalink : https://doi.org/10.14943/doctoral.k16003

このアイテムのアクセス数:230件（2026-01-17 03:58 集計）

ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
Ryota_Ochi	pdf	9.36 MB	3,077

アクセス権	open access
DOI	https://doi.org/10.14943/doctoral.k16003
URI	https://hdl.handle.net/2115/91955
タイトル	AlGaN/GaNヘテロ構造における表面・界面の評価および制御とトランジスタ応用
タイトル	Characterization and control of surface and interface on AlGaN/GaN heterostructures for transistor applications
著者	著者名越智, 亮太
言語	日本語
発行日	2024-03-25
出版者	Hokkaido University
ページ数	ⅴ, 139p.
学位授与機関	識別子 10101 機関名北海道大学 Hokkaido University
学位授与年月日	2024-03-25
学位授与番号	甲第16003号
学位名	博士(工学)
学位の審査委員	(主査) 教授本久順一, 教授太田裕道, 准教授赤澤正道
学位審査の研究科等	情報科学院(情報科学専攻)
資源タイプ	博士論文
出版タイプ	Version of Record
関連情報 (isReferencedBy)	HDL https://hdl.handle.net/2115/91938