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ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
33_p45-52	pdf	1.80 MB	2,920

論文情報

ファイル出力 EndNote Basic出力 Mendeley出力

アクセス権	open access
URI	https://hdl.handle.net/2115/17821
タイトル	低温走査電顕における一新技法 : フリーズ・エッチング・SEM法
	A Newly Desinged Technique in Scanning Electron Microscopy Freeze-Etching-SEM Method
著者	著者名 根井, 外喜男 NEI, Tokio
	著者名 浅田, 実 ASADA, Minoru
言語	日本語
発行日	1976-03-18
出版者	北海道大学低温科学研究所
収録物名	低温科學. 生物篇
	Low temperature science. Ser. B, Biological science
巻(号)	33
ページ	45-52
資源タイプ	紀要論文
出版タイプ	Version of Record
PISSN	0439-3546
NCID	AN00149635

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