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ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
gakui_4802	pdf	16.1 MB	716

論文情報

ファイル出力 EndNote Basic出力 Mendeley出力

アクセス権	open access
DOI	https://doi.org/10.11501/3083390
URI	https://hdl.handle.net/2115/58653
タイトル	CMOSラッチアップの解析と耐設計法への応用に関する研究
	Analysis of CMOS Latch-up and Its Application to High Immunity Design Methodology
著者	著者名 青木, 隆宏
言語	日本語
発行日	1995-06-30
出版者	Hokkaido University
ページ数	138p
学位授与機関	識別子 10101 機関名 北海道大学 Hokkaido University
学位授与年月日	1995-06-30
学位授与番号	乙第4802号
学位名	博士(工学)
学位の審査委員	(主査) 教授 雨宮好仁, 教授 長谷川英機, 教授 田頭博昭, 教授 武笠幸一
資源タイプ	博士論文
出版タイプ	Version of Record
NCID	BB1114199X

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