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メゾスコピックパターンを有する高分子薄膜:表面プラズモン共鳴法による構造評価

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Please use this identifier to cite or link to this item:http://hdl.handle.net/2115/24416

Title: メゾスコピックパターンを有する高分子薄膜:表面プラズモン共鳴法による構造評価
Authors: 西川, 雄大 Browse this author
下村, 政嗣 Browse this author
KNOLL, Wolfgang Browse this author
Issue Date: Jan-1998
Publisher: 北海道大学電子科学研究所
Journal Title: 電子科学研究
Volume: 5
Start Page: 73
End Page: 76
Type: bulletin (article)
URI: http://hdl.handle.net/2115/24416
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