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後方散乱エンハンスメントを用いた微粒子凝集体のレオロジー計測

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Please use this identifier to cite or link to this item:http://hdl.handle.net/2115/24427

Title: 後方散乱エンハンスメントを用いた微粒子凝集体のレオロジー計測
Authors: 岩井, 俊昭 Browse this author
Issue Date: Jan-1998
Publisher: 北海道大学電子科学研究所
Journal Title: 電子科学研究
Volume: 5
Start Page: 103
End Page: 104
Type: bulletin (article)
URI: http://hdl.handle.net/2115/24427
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