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電子顕微鏡像コントラストの定量的解析による双晶境界構造の研究

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タイトル: 電子顕微鏡像コントラストの定量的解析による双晶境界構造の研究
その他のタイトル: Atomic Structure of Twin Boundaries Deduced from Quantitative Analysis of Image Contrast of Electron Micrographs
著者: 丸川, 健三郎 著作を一覧する
発行日: 1985年 3月29日
出版者: 北海道大学 = Hokkaido University
誌名: 北海道大學工學部研究報告 = Bulletin of the Faculty of Engineering, Hokkaido University
巻: 125
開始ページ: 201
終了ページ: 210
資料タイプ: bulletin (article)
URI: http://hdl.handle.net/2115/41906
出現コレクション:No.125

 

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