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No.125 >

任意結晶格子を対象とするX線ラウエ写真の自動解析

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タイトル: 任意結晶格子を対象とするX線ラウエ写真の自動解析
その他のタイトル: Automatic Orientation Analysis of Crystallographic Axes of Arbitrary Lattice Using X-ray Laue Photograph
著者: 植平, 一郎 著作を一覧する
山田, 博憲 著作を一覧する
渡辺, 英裕 著作を一覧する
大場, 良次 著作を一覧する
発行日: 1985年 3月29日
出版者: 北海道大学 = Hokkaido University
誌名: 北海道大學工學部研究報告 = Bulletin of the Faculty of Engineering, Hokkaido University
巻: 125
開始ページ: 61
終了ページ: 68
資料タイプ: bulletin (article)
URI: http://hdl.handle.net/2115/41914
出現コレクション:No.125

 

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