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容量過渡解析によるAl2O3/native oxide/InP MIS構造の評価

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タイトル: 容量過渡解析によるAl2O3/native oxide/InP MIS構造の評価
その他のタイトル: Characterization of Interface Properties of Al2O3/native oxide/InP MIS Structure by Capacitance Transient Analysis
著者: 増田, 宏 著作を一覧する
何, 力 著作を一覧する
長谷川, 英機 著作を一覧する
沢田, 孝幸 著作を一覧する
大野, 英男 著作を一覧する
発行日: 1986年 7月31日
出版者: 北海道大学 = Hokkaido University
誌名: 北海道大學工學部研究報告 = Bulletin of the Faculty of Engineering, Hokkaido University
巻: 132
開始ページ: 89
終了ページ: 99
資料タイプ: bulletin (article)
URI: http://hdl.handle.net/2115/41991
出現コレクション:No.132

 

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