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Depth profiling analysis of solar wind helium collected in diamond-like carbon film from Genesis

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タイトル: Depth profiling analysis of solar wind helium collected in diamond-like carbon film from Genesis
著者: Bajo, Ken-ichi 著作を一覧する
Olinger, Chad T. 著作を一覧する
Jurewicz, Amy J. G. 著作を一覧する
Burnett, Donald S. 著作を一覧する
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キーワード: solar wind
depth profile
helium
NASA Genesis mission
post-ionization
発行日: 2015年
出版者: The Geochemical Society of Japan
誌名: Geochemical Journal
巻: 49
号: 5
開始ページ: 559
終了ページ: 566
出版社 DOI: 10.2343/geochemj.2.0385
抄録: The distribution of solar-wind ions in Genesis mission collectors, as determined by depth profiling analysis, constrains the physics of ion-solid interactions involving the solar wind. Thus, they provide an experimental basis for revealing ancient solar activities represented by solar-wind implants in natural samples. We measured the first depth profile of 4He in a Genesis collector; the shallow implantation (peaking at <20 nm) required us to use sputtered neutral mass spectrometry with post-photoionization by a strong field. The solar wind He fluence calculated using depth profiling is ~8.5 × 1014 cm-2. The shape of the solar wind 4He depth profile is consistent with TRIM simulations using the observed 4He velocity distribution during the Genesis mission. It is therefore likely that all solar-wind elements heavier than H are completely intact in this Genesis collector and, consequently, the solar particle energy distributions for each element can be calculated from their depth profiles. Ancient solar activities and space weathering of solar system objects could be quantitatively reproduced by solar particle implantation profiles.
資料タイプ: article
URI: http://hdl.handle.net/2115/59846
出現コレクション:雑誌発表論文等 (Peer-reviewed Journal Articles, etc)

提供者: 圦本 尚義

 

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