Hokkaido University Collection of Scholarly and Academic Papers >
Graduate School of Engineering / Faculty of Engineering >
Peer-reviewed Journal Articles, etc >
電子線トモグラフィーによる格子欠陥の3次元可視化
Title: | 電子線トモグラフィーによる格子欠陥の3次元可視化 |
Other Titles: | Three-dimensional Visualization of Lattice Defects by Electron Tomography |
Authors: | 波多, 聰1 Browse this author | 光原, 昌寿2 Browse this author | 田中, 將己3 Browse this author | 宮崎, 裕也4 Browse this author | 池田, 賢一5 Browse this author →KAKEN DB | 金子, 賢治6 Browse this author | 中島, 英治7 Browse this author | 東田, 賢二8 Browse this author | 松村, 晶9 Browse this author |
Authors(alt): | Hata, Satoshi1 | Mitsuhara, Masatoshi2 | Tanaka, Masaki3 | Miyazaki, Hiroya4 | Ikeda, Ken-ichi5 | Kaneko, Kenji6 | Nakashima, Hideharu7 | Higashida, Kenji8 | Matsumura, Sho9 |
Keywords: | electron tomography | lattice defect | dislocation | transmission electron microscopy (TEM) | scanning transmission electron microscopy (STEM) | three dimensions | dual-axis tomography |
Issue Date: | Jun-2010 |
Publisher: | 日本金属学会 |
Journal Title: | まてりあ |
Journal Title(alt): | Materia Japan |
Volume: | 49 |
Issue: | 6 |
Start Page: | 274 |
End Page: | 279 |
Publisher DOI: | 10.2320/materia.49.274 |
Abstract: | X線CT(computed tomography : コンピューター断層撮影法)の原理を透過電子顕微鏡(TEM: transmission electron microscope)に応用した電子線トモグラフィーは、物質のナノ構造を3次元で観察・解析する方法として、また、人間の直感に訴える新しいナノ構造可視化技術として、様々な材料への応用が進んできている。電子線トモグラフィーについては本誌で既に解説がなされており、本稿ではその後の進展として、結晶内部の格子欠陥を3次元可視化する取り組みを紹介する。 |
Type: | article |
URI: | http://hdl.handle.net/2115/75570 |
Appears in Collections: | 工学院・工学研究院 (Graduate School of Engineering / Faculty of Engineering) > 雑誌発表論文等 (Peer-reviewed Journal Articles, etc)
|
Submitter: 池田 賢一
|