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電子線トモグラフィーによる格子欠陥の3次元可視化

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materia 49(6) 274.pdf2.6 MBPDFView/Open
Please use this identifier to cite or link to this item:http://hdl.handle.net/2115/75570

Title: 電子線トモグラフィーによる格子欠陥の3次元可視化
Other Titles: Three-dimensional Visualization of Lattice Defects by Electron Tomography
Authors: 波多, 聰1 Browse this author
光原, 昌寿2 Browse this author
田中, 將己3 Browse this author
宮崎, 裕也4 Browse this author
池田, 賢一5 Browse this author →KAKEN DB
金子, 賢治6 Browse this author
中島, 英治7 Browse this author
東田, 賢二8 Browse this author
松村, 晶9 Browse this author
Authors(alt): Hata, Satoshi1
Mitsuhara, Masatoshi2
Tanaka, Masaki3
Miyazaki, Hiroya4
Ikeda, Ken-ichi5
Kaneko, Kenji6
Nakashima, Hideharu7
Higashida, Kenji8
Matsumura, Sho9
Keywords: electron tomography
lattice defect
dislocation
transmission electron microscopy (TEM)
scanning transmission electron microscopy (STEM)
three dimensions
dual-axis tomography
Issue Date: Jun-2010
Publisher: 日本金属学会
Journal Title: まてりあ
Journal Title(alt): Materia Japan
Volume: 49
Issue: 6
Start Page: 274
End Page: 279
Publisher DOI: 10.2320/materia.49.274
Abstract: X線CT(computed tomography : コンピューター断層撮影法)の原理を透過電子顕微鏡(TEM: transmission electron microscope)に応用した電子線トモグラフィーは、物質のナノ構造を3次元で観察・解析する方法として、また、人間の直感に訴える新しいナノ構造可視化技術として、様々な材料への応用が進んできている。電子線トモグラフィーについては本誌で既に解説がなされており、本稿ではその後の進展として、結晶内部の格子欠陥を3次元可視化する取り組みを紹介する。
Type: article
URI: http://hdl.handle.net/2115/75570
Appears in Collections:工学院・工学研究院 (Graduate School of Engineering / Faculty of Engineering) > 雑誌発表論文等 (Peer-reviewed Journal Articles, etc)

Submitter: 池田 賢一

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